滨松中国

薄膜厚度测量仪 (5)
 
非接触的高精度膜厚检测系统利用激光干涉法和光谱干涉法。
产品图像产品型号产品名称
 C10178-01纳米膜厚测量仪系列
 C11627-01纳米膜厚测量仪系列
 C11011-01微米膜厚测量仪
 C11011-01W微米膜厚测量仪
 C11295多点纳米膜厚测量仪