滨松中国

半导体失效分析系统 (3)
 
该系列为成像产品,可以清晰定位出半导体失效而引发的微光和热量信号。
 
产品图像产品型号产品名称
 C11222-16PHEMOS-1000 微光显微镜
 TriPHEMOSTriPHEMOS 实时分析微光显微镜
 C10614-02THEMOS mini 热点检测微光显微镜