16单元硅光电二极管阵列 S11299-021

X射线无损检测背照式光电二极管阵列,细长板类型

S11299-021是一款背照式16元件光电二极管阵列,专为X射线无损检测设计。与S5668系列相比,它具有更高的灵敏度、均匀性和光电二极管元件稳定性。背照式光电二极管阵列具有便捷操作的特点,而且易于耦合到闪烁体,因为其背面没有接合线和光敏区域,不用担心损坏电路。S11299系列兼容双能量成像,因为它可与S11212系列[尺寸:25.4(宽)×20.0(高)mm]结合使用,配置上下两层结构,同时检测高和低X射线。


产品特征
● 光谱响应范围:340至1100nm
● 元件尺寸:1.175(宽)×2.0(高)mm /单个元件
● 元件间距:1.575毫米(×16像素)
● 安装在板上尺寸:25.4(宽)×10.2(高)mm
● 多种组合形式,宽窄均能适用
支持双能量成像(用于上下两层结构)


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详细参数 注意 详细参数 外形尺寸(单位:mm) 相关下载

详细参数

元素大小(每1列) 1.175 × 2.0 mm
像元个数 16
封装 Glass epoxy
封装类型 With scintillator
闪烁体类型 None
冷却方式 Non-cooled
光谱响应范围 340 to 1100 nm
峰值灵敏度波长(典型值) 920 nm
光敏度 (典型值) 0.61 A/W
暗电流 (最大值) 30 pA
上升时间 (典型值.) 6.5 μs
结电容(典型值) 40 pF
注意 This photodiode array as it is does not function as an X-ray detector. An appropriate scintillators or phosphor sheet should be added at user’s side.
测量条件 Ta=25 ℃, per element, Photosensitivity: λ=λp

注意

 该产品的芯片未密封并暴露在外。 芯片上的电极等部件没有外壳或窗户的保护,因此与普通产品相比,在处理过程中需要特别小心。
 在使用本产品之前,请务必阅读下面pdf文件“未密封产品/注意事项”。


Unsealed products / Precautions [PDF]



详细参数

 

像素尺寸(单个)

1.175 × 2.0 mm

像素个数

16

封装

Glass epoxy

封装类型

With scintillator

闪烁体种类

None

冷却方式

Non-cooled
光谱响应340 to 1100 nm

峰值灵敏波长(典型值

920 nm

光敏度(典型值

0.61 A/W

暗电流(最大值

30 pA

截至频率(典型值

6.5 μs

终端电容(典型值

40 pF
注意This photodiode array as it is does not function as an X-ray detector. An appropriate scintillators or phosphor sheet should be added at user’s side.

测量条件

Ta=25 ℃, per element, Photosensitivity: λ=λp

 

外形尺寸(单位:mm)

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