紧贴热门分析应用,滨松中国将携多款实力产品参展BCEIA 2015
发布时间:2015-10-27 ,活动时间:2015年10月27日 ,活动地点:北京·国家会议中心
中国分析领域两年一度的盛会——北京分析测试学术报告会暨展览会BCEIA,将于10月27日-30日在北京国家会议中心举办。
滨松中国本次将展出质谱、光谱、色谱三大分析应用中多款光源、光电探测器等产品。另外,量子级联激光器(QCL)、MOEMS微型化产品也将重点登场。

可用于质谱仪的离子探测器 R4146-10

紧凑的紫外-可见S2D2光源模块 

为了增加参观者对产品的体验,展台专门设立了DEMO演示区。由红外探测器和QCL组成的气体分析DEMO将在这里迎来中国首展,为观众生动诠释如今在环保领域中气体分析监测这一热门应用。另外,观众除了可再次见到尘埃探测器DEMO(可测PM2.5),也将有机会和极具潜力新品——笔头大小MEMS-FPIDEMO进行“亲密接触”,现场将准备多种样品,供观众体验。

MEMS-FPI DEMO 现场有多种塑料样本供测试体验
随着社会的发展和环境的变化,分析仪器也出现了许多来微型化、便携化的需求,而想要真正把握改变的机遇,来自于核心器件的支持是必不可少的。滨松中国分析领域销售工程师张顺斌,将于102713:20V馆进行名为“‘微’型大义,滨松微型化新品为分析仪器带来更多应用可能”的现场报告,针对滨松利用MOEMS等技术开发的一系列微型化新品进行介绍,届时欢迎您的莅临。 

 滨松展台为P20P22,报告地点位于V馆“厂商秀”区域



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