滨松中国
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活动预告
滨松中国将参展第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会BCEIA 2017
活动地点:北京国家会议中心,活动时间:2017-10-10
由中国分析测试协会主办的北京分析测试学术报告会暨展览会(简称“BCEIA”),为国内分析测试领域专业化程度和知名度最高的盛会。第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2017)继续坚持了“分析科学 创造未来”的方向,围绕“生命 生活 生态——面向绿色未来”的主题,于2017年10月10日-13日,在北京国家会议中心拉开序幕。

滨松将展出实验室分析仪器应用的一系列光电探测解决方案(质谱、光谱、液相色谱),特别是在如今的热点——质谱方面,传承40年技术工艺的的新型MCP、电子倍增器,以及快速荧光屏、离子化光源产品将亮相,实际地为质谱研发提供更稳定、可靠的光电技术支持。另外,凝结滨松MOEMS技术的一系列微型化光电探测器,如笔尖大近红外光谱探测器MEMS-FPI、曾获得国际光学“棱镜奖”的指尖大微型光谱仪等,也在展会中呈现,在智能化、便携式分析设备中,拥有极大应用潜力。此外,用于发光材料性能分析的新型绝对量子产率测量系统Quantaurus-QY PLUS也在展会中展出。

欢迎前来您届时前来滨松中国展台(41087,41089)参观咨询。


滨松质谱应用产品
电子倍增管,MCP,VUV离子化光源


MEMS-FPI 近红外光谱探测器