滨松中国
应用领域

有机LED测量
 
绝对量子产率测量系统
nbsp用于发光材料的采用光致发光法的绝对量子效率测量系统。薄型材料、液体溶液和粉末等都能被分析。
薄膜厚度测量仪
非接触的高精度膜厚检测系统利用激光干涉法和光谱干涉法。
外量子效率测量系统
nbsp采用积分球的高精度外量子效率测量系统。它实现了不受待测物发光角特性影响的高精度测量。